iv测试仪+半导体分立器件I-V曲线扫描仪

 
 
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品牌 普赛斯仪表
测试范围 0~300V/0~3A
测试精度 0.03%
通信口 RS-232、GPIB及以太网
更新 2024-08-22 10:40
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武汉普赛斯仪表有限公司

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半导体电性能测试应用的专业领域十分广泛,分别有:微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等...

数字源表作为电学测量的常用仪器,在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到,源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量,使用非常广泛。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能,这些测试功能,令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力,而成本更低廉。

iv测试仪+半导体分立器件I-V曲线扫描仪都有哪些应用呢?

实验篇

在实际应用中,不同专业领域所进行的电性能测试实验是不同的,下面就来展示一些典型的实验现象。

I-V特性测试

电流电压我都要,性能测试有一套!


C-V特性测试



输入/输出特性测试

输入特性曲线

输出特性曲线


反向击穿电压测试


讲到这里,小编还是要说一句,半导体电性能测试实验远远不止这些,在各种实验项目中,多功能数字源表不可缺。

普赛斯仪表专注于半导体电性能测试领域,基于高精度数字源表综合实验平台,可提供多种实验测量环境,搭配丰富的测试夹具及实验器材,满足半导体电性能测试需求,提高测试效率。

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