大功率半导体激光器芯片可靠性测试电源

产品简介 

HCPL系列大功率半导体激光器芯片可靠性测试电源具备CW及QCW输出能力，单设备CW输出电流可高达60A，输出电压可高达100V，可广泛应用于大功率LED的LIV测试及老化、大功率半导体激光器的LIV测试及老化、肖特基二极管测试、整流桥堆测试等。设备支持多台并联来实现更大电流输出，输出电流精度及电压测量精度均可达0.1%。基于普赛斯多年SMU研发经验，产品集成了电压测量、光电流测量、温度监控、水流量监控等，特别适用于施加电流并同步测量的场景，可大幅度降低系统集成难度。

产品应用

大功率LED的LIV测试及产线批量老化；

大功率激光器的LIV测试及产线批量老化；

大功率半导体激光器稳定性及可靠性分析。

技术参数

大功率半导体激光器芯片可靠性测试电源特点

准确度0.1%；

支持LIV扫描测试；

直流Z大60A输出；

Z小脉宽100us;

电源抗浪涌设计；

丰富的扫描模式；

预留光电流、温度/水流量监控、DIO接口；

支持多种通信接口：RS-232/LAN。